9 kwietnia w Warszawie odbyła się konferencja „Od AI do kwantów. Przełomowe technologie a system ochrony własności intelektualnej”, organizowana przez Urząd Patentowy RP, wspólnie z Wydziałem Prawa i…
Pod patronatem honorowym Urzędu Patentowego RP 30 marca 2026 r. odbyła się na Uniwersytecie Jagiellońskim międzynarodowa konferencja „Sustainability of the EU Pharma and Healthcare Market”.
Jak rozmawiać o jakości w systemie własności przemysłowej? Najlepiej wspólnie. 30 marca w Urzędzie Patentowym RP odbyło się spotkanie podsumowujące pilotaż Panelu Doradczego ds. Jakości.
27 marca 2026 roku w Warszawie odbyła się Ogólnopolska Konferencja Naukowa „100 lat polskiego prawa autorskiego – wyzwania współczesności”.
W Warszawie odbyło się spotkanie trójstronne przedstawicieli urzędów patentowych z Polski, Francji i Niemiec.
Jak chronić rozwiązanie techniczne za granicą? Czym kierować się wybierając terytorium ochrony? Na co zwrócić uwagę przygotowując zgłoszenie w procedurze europejskiej i w systemie zgłoszeniowym PCT?
12 i 13 marca spotkaliśmy się z przedstawicielami centrów transferu technologii (CTT) z całej Polski: najpierw podczas konferencji „Partnerstwo dla innowacji.
W dniach 11-15 marca 2026 r. w Genewie odbywa się 51. Międzynarodowa Wystawa Wynalazków – jedno z ważniejszych wydarzeń poświęconych innowacjom oraz ochronie własności intelektualnej na świecie.
Dr hab. Ewa Skrzydło-Tefelska, prezes Urzędu Patentowego Rzeczypospolitej Polskiej, odwiedziła Sofię, gdzie Urząd Patentowy Republiki Bułgarii celebrował 130 lat ochrony własności intelektualnej w…
Co czwarte zgłoszenie patentowe w Europie wskazuje kobietę jako jedną z wynalazczyń!
Prezes EPO António Campinos przebywa z wizytą w Polsce. W jej ramach odbyło się spotkanie z Ministrem Sprawiedliwości Waldemarem Żurkiem. W spotkaniu uczestniczyła także Prezes Urzędu Patentowego RP…
Mamy przyjemność serdecznie zaprosić Państwa do udziału w konferencji pt. „Od AI do kwantów. Przełomowe technologie a system ochrony własności intelektualnej”, organizowanej przez Urząd Patentowy RP…